ICP-MS簡述
20世紀60年代末期,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀廠家,采用電感耦合等離子體源的原子光譜技術成為當時應用于微量元素分析的一項非常有前
途的技術(Greenfield等,1964; Wendt與Fassel, 1965)。但在分析超低含量物質時由于背景光譜增強,光譜干擾
嚴重使分析靈敏度和準確度達不到要求。只有質譜法能同時滿足譜圖簡單、分辨率適中和較低檢出限的要求。因此, ICP-AES所具有的樣品易于引入、分析速度快、多元素同時分析的特點與質譜儀的聯(lián)用成為科學和商業(yè)上研究的
熱點。1970年許多公司深入的參與了該技術的研究,CP作為發(fā)射源使等離子體中分析物有效電離能夠滿足新一代
儀器源的要求。同時也注意到惰性氣體在大氣壓下的電等離子體可能是一個很好的離子源。因此人們采用四極桿 質量分析器和通道式離子檢測器開展可行性研究。Gral在70年代中期首先報道了用等離子體作為離子源的質譜分 析法。1981年Gray在Surrey實驗室設計完成了 ICP源上所預期性能的設備,獲得了張ICP譜圖。1983年英 國VG公司與加拿***ciex公司推出商業(yè)化的ICP-MS,1984年在用戶實驗室才安裝ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化學分析中廣泛應用開來。
ICP-MS分析流程的建立
對于一種新基體的樣品來說,常規(guī)的分析路徑如下:
1. 酸化或溶解樣品
樣品一般需要行酸化溶解使目標元素溶解在液體中.
2. 選擇目標分析物和目標同位素
根據濃度范圍來選擇分析物和同位素。
3. 行掃描以便識別出存在的干擾
可以行半定量掃描,可以通過半定量掃描判斷大致存在哪些元素以及各個元素 的大致濃度范圍。
4. 選擇數據的采集模式以及校正曲線的類型
一般如果使用連續(xù)流的數據采集模式,會使用外標定量法。也有其他的數據評估方
法可以使用。
5. 選擇合適的內標元素
內標元素的使用可以校正由于時間或基體抑制效應引起的信號漂移。
6. 能進行基體匹配
將標樣的基體匹配到和您的樣品基體完全一致,可以將兩者之間的差異減小到小, 并且有助于得到更為準確的結果數據。
7. 進行質量控制校正(QC check)
在分析過程中插入另一來源的標樣(2nd Source Standard)或者有證標準物質 (Certified Reference Material),確保數據的完整性。
鋼研納克檢測技術股份有限公司是國內早使用和開發(fā)ICP光譜儀和ICP-MS的科研單位之一,依托國家鋼鐵材料測試中心,培育了一批ICP光譜儀和ICP-MS應用和儀器。ICP光譜儀產品標準GB/T 36244-2018和ICP-MS儀器計量檢定規(guī)程GB/T 34826-2017的起草單位。國家重大科學儀器專項《ICP痕量分析儀器的研制》牽頭單位,中國ICP系列分析儀器的發(fā)展。擁有30多年ICP方法開發(fā)經驗,懂ICP應用的國產ICP&ICP-MS制造商。免費培訓,解決客戶應用方法的難題,讓您ICP光譜儀和ICP-MS用的更好!,上市公司,品質之選!歡迎來電洽談.
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